广立微第四代高速半导体电性测试机成功通过欧盟CE认证

广立微第四代高速半导体电性测试机（Semitronix Tester IV）是一款快速电学参数测试机，具有测试灵活、测试速度快、测试精度高等核心优势。能够为客户提供准确且高度自动化的WAT与测试芯片测试解决方案，用于快速和更好地监控工艺及可靠性测试等应用。

Semitronix Tester IV采用严格的制造标准，集成了高质量的硬件与软件系统，通过权威第三方检测机构的检测符合欧盟CE标准，并获得CE-EMC与CE-LVD两项认证证书。证明Semitronix Tester产品的质量、安全规范等方面已达到了国际上具有广泛影响力的CE标准，产品品质进一步获得国际市场认可，为公司产品走向国际市场奠定了稳固的基础。

为满足客户的多元化需求，第四代高速半导体电性测试机包含T4000与T4100两种型号。T4000是标准高速半导体电性测试机，测量精度可以达到1pA；T4100是高密度并行半导体电性测试机，配置有多个SMU和更大规模的开关矩阵，支持大规模测试项的快速并行测试。