WAT 测试设备
广立微电子WAT测试设备是为了满足新工艺对高效率电性测试的需求而自主开发的。 在满足量产精度要求的基础上，广立微WAT设备throughput是现有方案效率的1.4X-5X。特别在与Semitronix的可寻址测试芯片解决方案结合使用后，其测试效率更高。
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产品与服务
提供高效稳定的成品率提升及电性监控技术
EDA软件
- SmtCell
- 功能强大的参数化单元版图设计工具
在设计SPICE/Reliability/RF/Process/Yield相关测试结构单元版图时，获得至少10倍的效率增益 - 了解更多
- TCMagic
- 通用型的测试芯片版图自动化设计平台，为客户在工艺开发各阶段的测试芯片设计提供完整高效的解决方案
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- ATCompiler
- 可寻址测试芯片版图自动化设计平台，满足集成电路工艺开发和制造过程监控的需求
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- ICSpider
- 产品芯片成品率和性能诊断的定制化测试芯片设计工具
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- Dense Array
- 基于超高密度测试芯片设计及快速测试技术的版图自动化设计软件，满足工艺开发下百万分率、甚至十亿分率的异常点检测的需求
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- DataExp
- 结合“快捷报表浏览”和“灵活深入分析”于一体的分析平台，能够有效地帮助半导体企业发挥数据价值，提升成品率和提高产品性能
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成品率提升技术服务
在IC产品的更高性能和更低成本的需求持续驱动下，需要新的技术节点的开发和现有工艺的优化改善去支持IC产品研发与生产。
广立微基于电性测试的全套解决方案能够极大的缩短研发周期，提升成品率。 通过简洁的一站式test chip设计、测试、分析及服务，客户能够缩短学习周期（learning cycle）， 同时对研发过程情况有深度的认识，加快客户研发进度、提高研发质量。
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