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产品与服务
提供高效稳定的成品率提升及电性监控技术

EDA软件

SmtCell
功能强大的参数化单元版图设计工具
在设计SPICE/Reliability/RF/Process/Yield相关测试结构单元版图时,获得至少10倍的效率增益
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TCMagic
通用型的测试芯片版图自动化设计平台,为客户在工艺开发各阶段的测试芯片设计提供完整高效的解决方案
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ATCompiler
可寻址测试芯片版图自动化设计平台,满足集成电路工艺开发和制造过程监控的需求
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DFTEXP
提供领先的可测性设计自动化和成品率解决方案,轻松应对业界复杂的SoC芯片的量产测试、成品率提升的挑战
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CMPEXP
高效CMP建模与仿真工具,可保障芯片的可制造性和成品率,解决行业痛点
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ICSpider
产品芯片成品率和性能诊断的定制化测试芯片设计工具
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Dense Array
基于超高密度测试芯片设计及快速测试技术的版图自动化设计软件,满足工艺开发下百万分率、甚至十亿分率的异常点检测的需求
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DataExp
结合“快捷报表浏览”和“灵活深入分析”于一体的分析平台,能够有效地帮助半导体企业发挥数据价值,提升成品率和提高产品性能
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晶圆级电性参数测试设备

在集成电路的产品开发、工艺制造和产品验证过程中,对电性参数测试的需求日益提高, Semitronix 广立微经过十余年,自主研发高效电性参数测试设备和解决方案,已成功进入国内外多家领先的芯片设计类(Fabless)企业、代工制造类 (Foundry)企业、垂直整合制造类(IDM)企业和研发实验室(R&D Lab),协助完成多种测试任务,并且高效、精确地提取器件和工艺相关的电性参数,实现以数据驱动芯片产品的功耗-性能-面积-成本(PPAC) 优化、可靠性以及成品率提升。
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成品率提升技术服务

在IC产品的更高性能和更低成本的需求持续驱动下,需要新的技术节点的开发和现有工艺的优化改善去支持IC产品研发与生产。 广立微基于电性测试的全套解决方案能够极大的缩短研发周期,提升成品率。 通过简洁的一站式test chip设计、测试、分析及服务,客户能够缩短学习周期(learning cycle), 同时对研发过程情况有深度的认识,加快客户研发进度、提高研发质量。
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