DataExp | 广立微

DataExp

结合“快捷报表浏览”和“灵活深入分析”于一体的分析平台

DataExp-General DataExp-YMS DataExp-TMA

DataExp简介

DataExp 是广立微十多年来支持集成电路行业经验的积累，建立的结合“快捷报表浏览”和“灵活即时性分析”于一体的分析平台，能够有效地帮助半导体企业发挥数据价值，提升成品率和提高产品性能。

数据统一管理

平台支持测试数据、工艺参数、晶圆缺陷数据
及图像等多维、复杂数据统一管理

数据可视化

高交互的数据可视化平台，配置有丰富的开箱即用数据大屏（Dashboard），以满足集成电路数据分析领域日常查看、监控数据的需求

高效处理数据

底层数据架构采用了最新的分布式数据库及管理系统，确保有效快速的存取/数据整合，具有灵活的扩展性

DataExp-General

简捷, 快速, 通用的数据分析软件, 且附加半导体特有分析需求

主要功能及特点

快速导入多种数据格式 (包括.csv/.xls/.stdf/.ad5等); 或连接 Database数据库
可进行数据转换, 合并, 修改, 添加, 及统计透视表等操作
图表构建流程方便，快捷 (Drag & Drop)
支持构建数据大屏，同时图表之间支持支持交互性分析 (Interactive & Dashboard)
可重复使用画图模板，并可自动生成powerpoint文档
支持多种统计分析（ANOVA, Chi-square, Correlation, Regression model, Kmean cluster）
包含为半导体数据量身定做的图表与分析方法

DataExp-YMS

半导体良率及Fab厂在线数据分析软件

应用

产品对象

半导体厂、设计公司以及封装厂

应用场景及特点

强大的数据整合与挖掘功能，智能数据大屏，高效产品监控及良率诊断

可视化的高交互应用前端,多样化灵活数据探索下钻分析

DataExp-TMA

WAT测试数据 (MPW, PCM等) 、RF数据分析软件

主要特征

测试芯片分析

可将大量设计DOE信息与芯片电性测试数据结合，通过数据建模快速找到缺陷多发的IC设计版图模式，呈现各个制程节点的工艺窗口，有效可靠地筛选最优的工艺条件、参数。同时，基于DataExp强大的绘图功能与自动生成分析报告功能，用户可以快速分析数据并完成可视化过程，自动生成WAT或In-line数据的分析报告。

RF数据分析

针对RF数据，客户可导入器件参数文件库，并进行参数批量转换、去嵌、取模、取相位等操作，绘制参数斯密斯圆、幅频、相频等曲线。DataExp平台对以前无法分析的海量射频数据进行快速有效地解析和结果展示，是RF数据分析方面一个质的飞跃。