展位直击 | 广立微亮相CSEAC 2023

晶圆级电性测试系统获关注

此次展会中，众多专业观众前来广立微展台交流探讨，其中最近发布的新一代通用型晶圆级电性测试系统T4000获得关注。

广立微团队细致地讲解了T4000 “功能齐全、超高精度、高效稳定、适配性强、强大的服务保障、丰富的算法库”的优势。通过交流，很多化合物半导体企业都表示出了强烈的合作意向。

同时，广立微基于电性测试的高效量产监控解决方案（Advanced PCM Solution）也引得许多关注。Advanced PCM Solution在性价比和测试效率方面具有显著优势，在量产环节中更精准地指向成品率失效的根本原因，并且结合广立微的WAT测试机，可以为Fab客户提供全方位的工艺监控和新设备验证。

此外，8月10日，广立微董事长郑勇军博士应邀出席了“半导体制造技术与设备材料董事长论坛”，分享如何从设计、测试到分析全面提升电性监控效率，实现高质量量产，与行业专家共探未来发展方向。

广立微将积极响应市场的需求，持续创新，提升技术水平，为产业打造完整的成品率提升生态，为客户带来更高的价值，助力行业发展。