简介
DE-Alarm系统是⼴⽴微为提升半导体制造质量⽽设计的关键解决⽅案。系统能 Real Time / Near Real Time自动报警 WAT、CP、FT、SLT的良率、参数异常和质量问题,可与客户ERP/MES系统对接处置Lot流程, 确保问题高效追溯,缺陷产品在出货前进行拦截,助于减少退货、换货、报废、返工和时间成本,从而节省数百万美元。
DE-Alarm 能够最大限度地减少客户投诉,保护品牌形象,并增强客户信任,而信任正是驱动业务成功的关键。
DE-Alarm系统是⼴⽴微为提升半导体制造质量⽽设计的关键解决⽅案。系统能 Real Time / Near Real Time自动报警 WAT、CP、FT、SLT的良率、参数异常和质量问题,可与客户ERP/MES系统对接处置Lot流程, 确保问题高效追溯,缺陷产品在出货前进行拦截,助于减少退货、换货、报废、返工和时间成本,从而节省数百万美元。
DE-Alarm 能够最大限度地减少客户投诉,保护品牌形象,并增强客户信任,而信任正是驱动业务成功的关键。
准确及时的检测和预防
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稳定⾼效的报警引擎
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各类Yield/Bin/Parametric统计规则 (例如:Site or Zonal Gap, Wafer Pattern…)
各种数据质量验证规则 (例如:Duplicated ECID, Piggy Back, Map Shift,...)
审批流程清晰,可视化呈现
优化规则标准,避免报警检测失败
标准过松导致监控失败,标准过严导致误报过多
⽣成总结报告,通过查看报警的整体情况,确定是否存在聚集现象
查看报警触发看板,识别根本原因