集成电路产品在更高性能和更低制造成本需求的持续驱动下,需要新技术、新材料和改进工艺进一步支持集成电路的研发与生产,因此成品率提升成为工艺开发和产品导入成功的关键。
广立微基于电性测试的全套解决方案能够极大的缩短研发周期,提升成品率。通过一站式测试芯片设计、电性测试及分析服务,助力客户新工艺/新产品线的成功研发,并极大地缩短研发周期、提高研发质量和成品率。
在与该客户新工艺开发合作项目中,广立微团队通过定制的测试芯片,评估工艺过程的风险、不同工艺选择的优劣,以及上述因素对成品率的影响程度;协助客户针对迭代实验工艺进行多批次流片,实现了工艺的快速成熟,在数月之内,实现客户SRAM(静态存储器)成品率的突破。
相关产品:SmtCell / TCMagic / ATCompiler / Dense array / DataExp
在该客户工艺服务项目中,广立微项目组在客户标准单元库基础上,设计了测试芯片评估电路级的速度与功耗等动态参数,根据测试数据分离出了限制产品性能的原因,并根据版图特性,找到了器件模型中的差距来源。
相关产品:ATCompiler / DataExp