2024年5月10日至13日, EDA国际研讨会(International Symposium of EDA,ISEDA)在中国西安成功举办。
作为国内领先的EDA公司 ,广立微受邀参会,通过主题演讲、Tutorial、学术发表、展台成果展示等多种形式积极参与此次盛会。
广立微副总裁Sa Zhao作为嘉宾,发表了主题为《 Effective Yield Diagnosis – Bridging Design & Manufacturing 》的演讲,深度解读了如何高效地进行良率诊断和相关技术趋势。
在Tutorial中, 广立微技术总监阙欢作为赛题评审专家,对ISEDA的重要组成部分——“2023年集成电路EDA设计精英挑战赛”中广立微的赛题《应用于超大规模版图图形匹配问题的Benchmark解析》进行了讲解回顾。
本次Tutorial,行业专家学者共同探讨EDA最新发展趋势和挑战,对促进相关领域的研究和探索起到了积极作用。
在ISEDA期间,广立微展台也全程陪伴,其中,广立微领先的可测性设计(DFT)自动化和良率诊断协同解决方案DFTEXP,因其可以轻松应对SoC芯片、大规模芯片的诊断测试、汽车电子的功能性安全测试等优势,吸引了众多到场咨询交流的来宾。
作为这次EDA领域国际化学术盛宴的主导企业之一,在开放融洽的交流氛围中,广立微也借此机会与企业界、教育界专家学者一起共话产业生态的创新方向和发展前景。未来,广立微也将充分整合企业和高校的资源和优势,推动可持续、深入的产学研合作与创新,助力行业发展。
关于我们
杭州广立微电子股份有限公司(股票代码:301095)是领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商,公司专注于芯片成品率提升和电性测试快速监控技术,是国内外多家大型集成电路制造与设计企业的重要合作伙伴。公司提供EDA软件、电路IP、WAT电性测试设备以及与芯片成品率提升技术相结合的整套解决方案,在集成电路设计到量产的整个产品周期内实现芯片性能、成品率、稳定性的提升,成功案例覆盖多个集成电路工艺节点。