概述
现代汽车越来越依赖各种电子元器件，如引擎控制单元、安全系统、娱乐系统等，行业对产品的质量和安全性要求非常高，芯片成品率的提高可以帮助确保电子元器件的稳定性和可靠性，减少故障风险，提升汽车整体品质。
汽车电子
减少故障风险，提升汽车整体品质
广立微晶圆级可靠性测试解决方案
广立微WLR晶圆级可靠性测试设备，硬件稳定性高，具有高量测精度和高效的量测效率，支持并行量测。同时，可以结合广立微提供的定制化软件系统来进行软硬件协同，可使其能够满足芯片各种可靠性测试的需求，包含：高电压、高电流、长时间以及高低温量测等，通过模拟工作环境进行全面检测，确保在研发、设计、制造中芯片的高质量和可靠性。
DATAEXP
针对汽车电子进行数据分析、管理和溯源
- SPAT (Static Part Average Testing)
- DPAT (Dynamic Part Average Testing)
- AEC DPAT (Automotive Electronics Council Dynamic Part Average)
- NNR (Nearest Neighbor Residual)
Automotive DFT
- In-System-Test
Mission Mode Controller and LBIST Controller Insertion
DMA Mode IST Integration to Support Power Self-test
CPU Interface IST Integration to Support Periodic Self-test
Mission Mode +MBIST+LBIST Verification - Low DPPM solution
Automotive Grade ATPG
User Defined MBIST Algorithm
High Coverage Implementation( Scan Structure + Testpoint)
