提升可控性
高质量反馈
降低成本
三大模块
较传统PCM，广立微Advanced PCM Solution优势明显
- 有效提升面积利用率。 可匹配Foundry PCM，同时配合广立微可寻址技术，设计单元密度可提升10-1500倍，释放更多划片槽可用面积，用于全面项目监控。
- 测试更高效。支持Full-map 电性测试, 涵盖所有WAT测量项目，通过设计测试协同优化，测试速度可提升1.4-5x。
- 配合DataExp 数据分析平台，实现数据分析自动化、流程化、规范化和后台产线数据库的集成。
- 大量的项目支持，便于更加有效的对PCM 监控结构资料库进行快速迭代。
设计
-
可寻址方案可大幅提高设计效率+面积利用率
典型的测试结构(HOL, device等)面积利用率提升大于10倍；
用于ppm-level device outlier 表征的Dense Array，面积利用率提升大于1000倍
相关产品：ATCompiler Dense Array
| 测试芯片类型 | 单个DUT 结构面积 |
光罩面积 利用率提升 |
|---|---|---|
| 传统测试芯片 | 15000μm2 | / |
| 可寻址测试芯片 | 625μm2 | 10~30X |
| 超高密度阵列 | 10μm2 | >1500X |
测试
- 支持量产WAT测试的需求，EAP自动化流程上线
- 通过了严格的数据匹配，WAT 测试机市场普及率高
- 机台软硬件系统开发完善，功能迭代快速
- 对比传统测试效率，具有1.4X-5X的优势
- 通过和自研设计的协同，测试效率可以提升到 3-10倍
相关产品：WAT Tester
| 测试芯片类型 | 常规测试速度 | Semitronix 测试机 测试速度 |
|---|---|---|
| 传统测试芯片 | 1X | 1.4~5X |
| 可寻址测试芯片 | 1X | 3~10X |
| 超高密度阵列 | 1X | 100~1000X |
数据分析
- DataExp 数据分析平台，实现数据分析自动化、流程化、规范化和后台产线数据库的集成。
- 分析的重点从传统单个数据的规格(USL/LSL) 控制，提升为从数据关系中，分辨可操作的物理变化和来源。
