DataExp-YMS(简称: DE-YMS) 支持集成电路生产制造过程中的CP、FT、WAT、Inline、Defect、WIP等多类型数据智能化分析，为客户提供“一站式”数据分析管理平台。
系统通过特有的算法支持和合理的数据处理流程，能够快速完成底层数据清洗、连接、整合工作，为Fab和 Fabless企业提供数据管理、良率分析、低良率成因下钻分析等方案。
同时，DE-YMS基于分布式数据库，具备友好的工具使用界面，为客户提供海量数据的有效存取并整合的快捷页面，以及方便灵活的交互分析服务，实现数据资源的统一管理和芯片良率的直观表达，极大地提高工程师的工作效率。